sem掃描電鏡在材料領(lǐng)域的具體應用介紹
sem掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。sem掃描電鏡SEM的原理：能顯示各種圖像的信息是由于聚焦的電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號。相互作用區(qū)的線性體積：隨原子序數(shù)的增加而減小；隨電子束能量的增加而增加；電子束與樣品的...
